Разработка тестопригодной схемы МПС на базе МП I8080

Программа вычисления булевой функции Y=Х1*(Х2*Х3)vХ4.

МПС опрашивает двоичные датчики, получает от них информацию, после чего вычисляет булевую функцию Y=Х1*(Х2*Х3)vХ4 и передаёт её значение в виде управляющего сигнала по выходному каналу. Таблица истинности представлена в таблице 3

Таблица 3

Программа:

0800 3E 9A MVI A,9Ah; Загрузка управляющего слова в аккумулятор

0802 D3 F3 OUT F3h; Запись управляющего слова в порт

0804 DB F0 IN F0h; Чтение из порта А исходных данных

0806 E6 0F ANI 0Fh; Выделение значимых бит

0808 47 MOV B,A; Сохранение значимых бит

0809 E6 01 ANI 01h; Выделение 1-го бита

080B FE 01 CPI 01h; Сравнение

080D CA 19 08 JZ M1; Если равно, то переход к метке М1

0810 78 MOV A,B; Восстановление значимых бит

0811 FE 0C CPI 0Ch; Сравнение

0813 CA 19 08 JZ M1; Если равно, то переход к метке М1

0816 C3 2D 08 JMP END; Переход в конец программы

08 19 3E 01 M1: MVI A,01h; Установка аккумулятора в 1

081B D3 F1 OUT F1; Вывод в порт В результата

081D 06 40 MVI B,40h; Организация задержки

081F 3E FF M3: MVI A,FF Время выполнения тактов

0821 DE 01 M2: SBI 01; 400 000 тактов при частоте 2 МНz = 200 мс.

0823 C2 21 08 JNZ M2; Если не равно, переход по М2

0826 78 MOV A,B; Загрузка данных из В в А

0827 DE 01 SBI 01; Вычитание из А 01

0829 47 MOV B,A; Сохранение результата вычитания в В

082A C2 1F 08 JNZ M3;

082D AF END: XRA A; Обнуление аккумулятора

082E D3 F1 OUT F1h; Обнуление порта В

0830 00 NOP; Конец программы

Программа инициализации КПП:

0000 F3 DI ; Запрет прерывания

0001 3E 92 MVI A,12H; Запись в аккумулятор 12h

0003 32 0280 STA 2400H; Запись 2400 в аккумулятор

0006 FB ЕI; Включить обслуживание прерывания

2. Эксплуатационно-технологический раздел

В работе данного устройства наиболее часто встречаются следующие неисправности:

1. Неисправности в работе ОЗУ в связи со слабой помехозащещенностью.

2. Неисправности в работе ключей SA1-SA5

3. Неисправности вследствие подачи на схему питания выше необходимого.

4. Неисправности в связи с перегоранием светодиодов VD1-VD5

Если такова неисправность обнаружена, то необходимо проверить все элементы схемы на работоспособность (особенно это касается микросхем, транзисторов и конденсаторов)

В данном устройстве будет использоваться наблюдаемость и управляемость для КПП.

Для КПП тестопригодность будет реализована на светодиодах и переключателях. На входы IR4-IR7 (запрос прерывания) и выход INT (Запрос прерывания на процессор) поставим светодиоды АЛ102ГФ, которые будут светиться при подаче на соответствующую линию логической единицы и на выходе INT - при выходе логической единицы. Это будет наблюдаемость. На все входы до светодиодов ставим переключатели, с помощью которых мы можем отключить КПП от МПС и падать на любые входы логические 1 или 0 и наблюдать, что будет на выходе INT (1- горит диод, 0 - не горит). Т.о. управляемость позволяет нам подать на входы комбинацию единиц и нулей, а наблюдаемость подтверждает подачу сигнала и показывает результат на выходе, на основе которого мы можем судить о правильности функционирования блока КПП.

Найти неисправность - значит, найти отказавший элемент, блок, модуль и т. д. В процессе ремонта можно выделить четыре этапа: установления факта наличия неисправности; выявление ее характера; устранения неисправности и проверка устройства после ремонта.

Существует несколько способов отыскания неисправностей. Выбор того или иного способа зависит от назначения устройства и особенностей схемы. Для отыскания неисправности требуется хорошее знание, как минимум принципиальной схемы и конструкции ремонтируемого устройства.

Все неисправности любого устройства можно разделить на механические и электрические.

К механическим неисправностям относятся неисправности в механических узлах устройства (выход из строя кнопок и переключателей, а также неконтакт в разъемах).

К электрическим неисправностям относятся такие, которые приводят к изменению электрического сопротивления цепей, значительному увеличению сопротивления, значительному уменьшению его или короткому замыканию (выход из строя резисторов, светодиодов, микросхем и т. п.).

При поиске неисправностей устройства применяют пять способов:

1. Внешний осмотр позволяет выявить большинство механических неисправностей, а также некоторые электрические. Внешним осмотром проверяется качество сборки и монтажа. При проверке качества сборки вручную следует проверить механическое крепление отдельных узлов, таких как переключатели, переменные резисторы, штепсельные соединения (разъемы).

Внешним осмотром проверяют также качество электрического монтажа. При этом выявляют целостность соединительных проводников, наличие затеков припоя, которые могут привести к коротким замыканиям между отдельными участками схемы, обнаруживают провода с нарушенной изоляцией, проверяют качество паек и т. п. Внешним осмотром можно выявить дефекты отдельных элементов (обрыв выводов, резисторов, механическое повреждение конденсаторов и другие).

Внешний осмотр, как правило, делают при отключенном питании аппаратуры. При его проведении особое внимание необходимо обращать на то, чтобы в монтаж не попали случайные предметы, которые при включении устройства могут вызвать короткое замыкание.

Внешним осмотром можно выявить неисправный светоэлемент (по яркости свечения), резистор (по изменению цвета или обугливанию поверхностного слоя) и другие элементы.

Во включенном состоянии можно определить перегрев трансформаторов, электролитических конденсаторов, полупроводниковых элементов. Появление запахов от перегретых обмоток, резисторов, пропиточного материала трансформаторов также сигнализирует о наличии неисправностей в схеме устройства.

Иногда в ходе осмотра возникает сомнение в исправности отдельных элементов. Тогда следует выпаять элемент и проверить его исправность более тщательно.

2. Способ промежуточных измерений. Заключается в последовательной проверке прохождения сигнала от блока к блоку до обнаружения неисправного участка.

3. Способ исключения - заключается в последовательном исключении исправных узлов и блоков.

4. Способ замены отдельных элементов, узлов или блоков на заведомо исправные, широко используется при ремонте устройств ВТ. Например, можно заменить элемент (транзистор, трансформатор, микросхему) или блок на заведомо исправный и убедиться в наличии неисправности на этом участке.

5. Способ сравнения - заключается в сравнении параметров неисправного аппарата с параметрами исправного аппарата того же типа или марки.

Использование того или иного способа поиска неисправности зависит от особенностей схемы устройства.

Так как данное устройство состоит в основном из микросхем, то при нахождении неисправности в интегральной схеме она подлежит замене.

Кроме ИМС в устройстве располагается ряд таких элементов, как транзисторы, резисторы, диоды и конденсаторы. При порче они также нуждаются в замене.

Возможны такие неисправности, как неконтакт (т.е сигнал не проходит от начала своего пути и до конца). При этом надо тщательно осмотреть устройство на наличие обрывов и пропаять подозрительные места.

Заключение

В данном курсовом проекте мною была разработана МПС на базе I8080 с тестируемым блоком КПП. Благодаря данному курсовому проекту мною были закреплены на практике теоретические знания, охватывающие практически все спецпредметы изученные на учебной скамье, необходимые для будущего техника-электроника.

В ходе проделанной работы были разработаны функциональные узлы МПС на базе I8080 и обеспечены взаимосвязи между ними.

Таким образом, курсовое проектирование по предмету «Эксплуатация и ремонт электронных вычислительных средств», является наиболее важным и ответственным этапом: для учащегося (будущего специалиста) в изучении предмета, а для преподавателя - в самоудовлетворении своим умением преподнести будущему специалисту (технику-электронику) необходимую для его дальнейшей самостоятельной деятельности знаний по своей области деятельности.

Список использованных источников:

1. Галкин О.Н. Микросхемы памяти и их применение: Справочник. -М. Радио и связь, 1990.

2. Микропроцессоры и микропроцессорные комплекты интегральных микросхем. В 2 т./ под редакцией В.А. Шахнова. - М.Радио и связь, 1988.

3. Бирюков С.А. Применение цифровых микросхем серии ТТЛ и КМОП - М.: ДМК, 1999.

4. Справочник: Цифровые интегральные микросхемы: Богданович М.И. и другие. Мн.; 1996.

5. www.assembler/PC.htm языки программирования

6. http://ns.onego.ru/~sprut/ Схемы, pадиолюбительские технологии, пpогpаммиpование ПЗУ и дp.

7. http://www.qsl.net/eu5r Жypнал "РАДИОЛЮБИТЕЛЬ"

8. Агаханян Т.М. Интегральные микросхемы.-М. Энергоатомиздат,1983

9. Диск «RADIO» - Большой справочник радиолюбителя

10. Баюков А.В. и др. Полупроводниковые приборы: Диоды, тиристоры, оптоэлектронные приборы. Справочник.-М.: Энергоатомиздат, 1987.

11. Стрыгин В.В, Щарев Л.С. Основы вычислительной микропроцессорной техники и программирования. Москва «Высшая школа» 1989.

Страницы: 1, 2, 3