Расчет основных формул по основам электроники
Расчет основных формул по основам электроники
КУРСОВАЯ РАБОТА Расчет основных формул по основам электроники по дисциплине « ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ» Вариант 28 Чита2009Исходные данные|
| | | | | | | | | | | | 0,78 | | 0,04 | | 0,035 | 0,2 | 0,6 | 15 | 1500 | 700 | 250 | | | Физические и математические постоянные:1. Постоянная Планка 2. Элементарный заряд 3. Масса покоя электрона 4. Постоянная Больцмана 5. Число пи 6. Число е 7. Электрическая постоянная 1. Рассчитать температурную зависимость концентрации равновесных носителей заряда в собственном полупроводникеИсходные формулы:а) Получение расчетной формулыПример:б) Результаты расчетов представил в таблице 1.Таблица 1.Концентрация равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике.|
T | T^3/2 | 1/T | KT | n0 | lnn0 | | 75 | 649,5190528 | 0,013333333 | 0,006463 | 0,003973436 | -5,528124115 | | 100 | 1000 | 0,01 | 0,008617 | 21789,62053 | 9,989189013 | | 120 | 1314,534138 | 0,008333333 | 0,010341 | 54057905,69 | 17,80556636 | | 150 | 1837,117307 | 0,006666667 | 0,012926 | 1,42581E+11 | 25,68317669 | | 200 | 2828,427125 | 0,005 | 0,017235 | 4,14293E+14 | 33,65759481 | | 300 | 5196,152423 | 0,003333333 | 0,025852 | 1,43642E+18 | 41,80868748 | | 400 | 8000 | 0,0025 | 0,03447 | 9,60747E+19 | 46,0116581 | | 500 | 11180,33989 | 0,002 | 0,043087 | 1,2904E+21 | 48,60924193 | | | в) Построил график 1 зависимости равновесной конфигурации носителей тока от температуры в координатах .График 1г) Проверить правильность построения графика, выполнив обратную задачу: используя значение tg б, найти ширину запрещенной зоны полупроводника ?Е, сравнить с исходным значением ?Е. Найти погрешность д(?Е). 2. Рассчитать температурную зависимость уровня Ферми в собственном полупроводникеРасчетная формула: а) результаты расчетов представил в таблице 2Зависимость Ef(T) в собственном полупроводникеТаблица 2|
T,K | KT,эВ | Ef,эВ | Ef/Ef0*100% | | 100 | 0,008617375 | 0,397100366 | 101,8206066 | | 200 | 0,01723475 | 0,404200731 | 103,6412132 | | 300 | 0,025852126 | 0,411301097 | 105,4618198 | | 400 | 0,034469501 | 0,418401463 | 107,2824264 | | 500 | 0,043086876 | 0,425501829 | 109,103033 | | | б) Построил график 2 «Зависимость Ef(T) в собственном полупроводникеГрафик 23. Рассчитать температуры ионизации донорной примеси Тs и ионизации основного вещества Тi в полупроводнике n тока методом последовательных приближений. В качестве начальных температур использовать значения Ti =400 К ,Ts=50 КРасчетные формулы: Таблица 3.|
N приближ. | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | | Ti, K | 400 | 986,0672473 | 761,51462 | 814,6480626 | 800,077865 | 803,9251818 | | Nc*10E+25, | 0,345561057 | 1,337502517 | 0,907720567 | 1,004361024 | 0,977536968 | 0,984596428 | | Nv*10E+25 | 1,795587925 | 6,949866942 | 4,716654422 | 5,218812967 | 5,079431084 | 5,116113117 | | |
|
10 | 11 | | 803,1185939 | 803,1134442 | | 0,983115014 | | | 5,108415461 | | | | Таблица 4.|
N приближ | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | | Ts,K | 50,000 | 346,476 | 109,388 | 184,635 | 140,692 | 160,530 | 150,249 | 155,238 | 152,735 | | Nc*10E+23 | 1,527 | 27,858 | 4,942 | 10,837 | 7,208 | 8,786 | 7,955 | 8,355 | 8,153 | | |
|
10 | 11 | 12 | 13 | | 153,970 | 153,355 | 153,660 | 153,509 | | 8,253 | 8,203 | 8,228 | | | | 4. Рассчитать температуру ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближенийРасчетные формулы: Таблица 5.|
N приближ. | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | | Ti, K | 400 | 856,68 | 704,36 | 738,10 | 729,75 | 731,76 | 731,27 | 731,39 | 731,36 | | Nc*10E+25, | 0,3455 | 1,083100 | 0,8074 | 0,8661 | 0,8515 | 0,8550 | 0,8541 | 0,8544 | | | Nv*10E+25 | 1,7955 | 5,627955 | 4,1958 | 4,5008 | 4,4246 | 4,4429 | 4,4385 | 4,4396 | | | | Таблица 6.|
N приближ | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | | Ts,K | 50 | 110,34 | 83,43 | 91,29 | 88,60 | 89,48 | 89,19 | 89,28 | 89,25 | | Nv*10E+23 | 7,9354 | 26,0163 | 17,104 | 19,579 | 18,719 | 18,998 | 18,9 | 18,93 | | | | 5. Рассчитать температурную зависимость положения уровня Ферми Ef(T) в донорном полупроводникеа) для низкотемпературной области использовать формулу:Таблица 7.|
T,K | 5 | 10 | 50 | 60 | 80 | 153,5 | | KT,эВ | 0,000430869 | 0,000861738 | 0,004308688 | 0,005170425 | 0,0068939 | 0,013227671 | | Nc,м-3 | 4,82936E+21 | 1,36595E+22 | 1,52718E+23 | 2,00753E+23 | 3,09079E+23 | 8,21481E+23 | | Ef,эВ | -0,01954453 | -0,01953705 | -0,02288620 | -0,02417045 | -0,02704804 | -0,03998852 | | | График 3 Зависимость Ef(T) для полупроводника n-типа в области низких температур.б) для низкотемпературной области найти положение максимума зависимости Ef(T), т.е. вычислить и в) для области средних температур использовать формулу:Таблица 8.|
T,K | 100 | 150 | 200 | 250 | 300 | 350 | 400 | | KT,эВ | 0,00861737 | 0,012926063 | 0,01723475 | 0,021543438 | 0,02585212 | 0,03016081 | 0,034469501 | | Nc,м-3 | 4,3195E+23 | 7,93545E+23 | 1,22174E+24 | 1,70744E+24 | 2,2444E+24 | 2,8283E+24 | 3,4556E+24 | | Ef,эВ | -0,01453136 | -0,02965864 | -0,04698205 | -0,06593848 | -0,0861962 | -0,10753629 | -0,12980275 | | |
|
450 | 500 | 550 | 600 | 650 | 700 | 750 | 803,1 | | 0,038778188 | 0,043086876 | 0,047395564 | 0,0517042 | 0,056013 | 0,060322 | 0,06463 | 0,06920614 | | 4,12338E+24 | 4,82936E+24 | 5,57159E+24 | 6,348E+24 | 7,16E+24 | 8E+24 | 8,87E+24 | 9,83081E+24 | | -0,15287922 | -0,17667528 | -0,20111873 | -0,2261505 | -0,25172 | -0,27779 | -0,30432 | -0,332968031 | | | г) в области высоких температур использовать формулу:Таблица 9.|
T,К | 400 | 450 | 500 | 550 | | KT,эВ | 0,034469501 | 0,038778188 | 0,043086876 | 0,047395564 | | Ef,эВ | -0,361598537 | -0,358048354 | -0,354498171 | -0,350947989 | | | д) построить график 4 «Температурная зависимость Ef для донорной примеси по полученным точкам ».График 4.6. Рассчитать критическую концентрацию вырождения донорной примеси. В и 7.Рассчитать равновесную концентрацию основных и неосновных носителей тока в p-n и n - областях p-n перехода при температуре Т=300К. Полагая , что примесь полностью ионизирована, считать и равным концентрации соответствующей примесиКонцентрация неосновных носителей найти из закона действующих масс в и перевести в .8. Найти высоту потенциального барьера равновесного p-n-перехода и контактную разность потенциалов 9. Найти положение уровней Ферми в p-n-перехода и n-областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны соответственно .(Т=300К)а)б) в) определить высоту потенциального барьера p-n-перехода (проверка правильности п.8)10. Найти толщину p-n-перехода в равновесном состоянии (Т=300К)11. Определить толщину пространственного заряда в p-n-областях12. Построить в масштабе график 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии»График 5.13. Найти максимальную напряженность электрического поля в равновесном p-n-переходе. Построить график 6 «Зависимость напряженности электростатического поля от расстояния в p-n-переходе»График 6.14. Найти падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода15. Построить график 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния»Задать 5 значений Хр через равные интервалы и вычислить 5 значений .Задать 5 значений Хn через равные интервалы и вычислить 5 значений .Таблица 9.|
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | | Xp*1E-7 | 0,245902211 | 0,491804423 | 0,737706634 | 0,983608846 | 1,229511057 | | цp | 0,014588944 | 0,058355776 | 0,131300495 | 0,233423102 | 0,364723597 | | Xn*1E-7 | -0,122951106 | -0,245902211 | -0,368853317 | -0,491804423 | -0,614755529 | | цn, в | -0,007294472 | -0,029177888 | -0,065650248 | -0,116711551 | -0,182361799 | | | График 7.16. Вычислить барьерную емкость p-n-перехода расчете на S=1 смІ для трех случаева) равновесное состояние p-n-переходаб) при обратном смещении V=1 Вв) при прямом смещении V=0.8 VkВывод: При обратном смещении барьерная емкость уменьшается . при прямом смещении барьерная емкость увеличивается.17. Вычислить коэффициент диффузии для электронов и дырок ( в смІ/с) и диффузионную длину для электронов и дырок (в см) при Т=300 К18. Вычислить электропроводность и удельное сопротивление собственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа при Т=300 КВыводы: а) проводимостью неосновных носителей в легированных полупроводника можно пренебречь по сравнению с прводимостью, обусловленной основными носителями.б) легированный п/п обладает большей электропроводностью.В 10 раз.19. Определить величину плотности обратного тока p-n-перехода при Т=300 К вА/смІ20. Построить обратную ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 КРезультаты расчетов привести в таблице 10.По данным таблицы 10 построить график 7 «Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода».Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 К.Обратная ветвь ВАХ p-n-переходаТаблица 10.|
N | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | | qV | 4,14195E-22 | 1,24259E-21 | 2,07098E-21 | 4,14195E-21 | 6,21293E-21 | 8,2839E-21 | | V | -0,002585213 | -0,007755638 | -0,012926063 | -0,025852126 | -0,038778188 | -0,051704251 | | j*10, А/смІ | -4,15542E-07 | -1,13176E-06 | -1,71814E-06 | -2,76025E-06 | -3,39232E-06 | -3,77569E-06 | | |
|
7 | 8 | 9 | 10 | 11 | | 1,24259E-20 | 1,65678E-20 | 2,07098E-20 | 2,48517E-20 | 8,2839E-20 | | -0,077556377 | -0,103408502 | -0,129260628 | -0,155112753 | -0,51704251 | | -4,14925E-06 | -4,28667E-06 | -4,33723E-06 | -4,35583E-06 | -4,3667E-06 | | | График 8.21. Построить прямую ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 КРезультаты расчетов привести в таблице 11.Прямая ветвь ВАХ p-n-перехода, Т=300 К.Таблица 11.|
N | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | | qV | 4,14195E-21 | 8,2839E-21 | 1,24259E-20 | 1,65678E-20 | 1,86388E-20 | 2,07098E-20 | 8,2839E-20 | | V | 0,025852126 | 0,051704251 | 0,077556377 | 0,103408502 | 0,116334565 | 0,129260628 | 0,517042511 | | j , А/смІ | 7,50313E-09 | 2,78987E-08 | 8,33397E-08 | 2,34044E-07 | 3,88706E-07 | 6,437E-07 | 2,118519275 | | | График 9.22. Вычислить отношение jпр/jобр при и при . Сформулировать выводВывод:Чем больше напряжение, тем выше коэффициент выпрямления
|
|